基于高光谱成像技术的小麦苗期监测研究

小麦幼苗的发育好坏直接影响最终的产量、品质及安全性，苗期长势是农艺学家、育种家、生物化学家非常关注的作物特性。目前，作物长势无损监测研究大多侧重于采用光谱技术获取中后期的群体参数（叶面积、生物量、覆盖度等）实现。而幼苗的光谱检测研究还较少，除了限于个体分析，在大范围无损监测方法方面更缺乏。光谱成像技术具有“图谱合一”的特性，它能同时获取观测对象的光谱与图像信息，且有很高的光谱分辨率和更精细的波段，海量的图谱信息在研究作物个体差异性方面具有得天独厚的优势。本文利用高光谱成像仪，开展了盐、冻害、干旱等不同胁迫类型下的苗期小麦长势监测研究及穗发芽程度识别研究，初步探索了基于高光谱成像技术的小麦苗期长势监测方法，这为地面、航空和卫星遥感监测小麦苗情提供了理论依据。