Golden Light
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高压输电线路,尤其是超特高压输电线路,往往需要通过高海拔、气候湿润及重污染等复杂环境地区,不可避免地会发生污秽闪络。而输电线路实际运行经验表明,污秽闪络已经成为威胁电力系统安全运行的主要原因之一。自上世纪初,国内外学者在绝缘子污秽闪络机理研究方面开展了大量工作,但大面积污闪事故仍不时发生。因此,进一步研究绝缘子串工频污秽闪络机理及闪络特性,对输电线路外绝缘设计以及运行过程中污秽闪络的防治,具有重要的学术意义和工程应用价值。 为研究交流局部电弧在绝缘子串表面的发展过程及其对闪络电压的影响,对绝缘子周向1/4表面涂覆不同盐密的污秽,并以三片为一串进行污秽闪络实验,观察闪络过程中局部电弧在绝缘子表面的起始和延伸过程。另外,搭建不同伞伸出和伞间距组合的多层玻璃板装置,以模拟不同结构绝缘子,并观察局部电弧发展过程受伞形参数变化的影响。结果表明,局部电弧的产生方式包括沿面放电和空气间隙击穿两种,发展方式包括沿面延伸和桥接。局部电弧的产生和发展方式受绝缘子伞形、串长和表面盐密的影响。

书籍详述:

ISBN-13:

978-3-639-82359-2

ISBN-10:

3639823591

EAN:

9783639823592

书籍语言:

中文

By (author) :

亚伟 李
隆晨 刘
星海 张

页数 :

100

出版于:

03.03.2016

分类:

Electronics, electro-technology, communications technology