奈米銦粉末之粒徑分布對分析自旋極化現象的影響

我們講解如何用熱蒸鍍法做出奈米銦粉末樣品In100418，並一步步講解如何使用X光繞射儀得到樣品的繞射譜圖，用GSAS精算軟體進行成分分析，以積分寬法、共同體積函數法及原子力顯微鏡進行樣品之粒徑分析以及講解棋分析原理。 接著我們將14nm左右的銦粉末，放入膠囊，慢慢壓縮膠囊之體積，改變樣品的壓合密度。每一組壓合密度，皆藉由物理特性量測系統(ppms)，量測好幾組溫度之M-H圖，然後將圖不同趨勢的部分做出說明與解釋，讓大家看的懂，並合理的用我們所知的原理，找出合理的方程式對數據進行擬合分析。 我們將顆粒粒徑分佈對顆粒磁矩的影響，考慮進M-H圖的擬合方程中，並探討此方法(multi-dispersed擬合法)的原理與必要性，以及對造此方法的到的自旋極化參數與過去只用單一顆粒磁矩的擬合函數法(mono-dispersed擬合法)所得到的自旋級化參數，做分析與比較。 　 然後我們將會在本書中解釋我們所觀察到的結論。